老化测试房老化系统是一种测试和质量控制过程,用于识别和消除有缺陷的电子组件,LCD老化测试房,然后将其出售或集成到较大的系统中。对于依赖频繁设计更改和组件修改的行业(例如半导体制造) ,液晶屏老化测试房,老化测试是一项重要功能,因为它有助于保持产品运行之间的一致性。测试过程旨在通过在较高电压水平,超出标准温度范围以及在电源循环条件下运行产品来概述可能的缺陷。除半导体外,印刷电路板,集成电路和类似的微处理器组件通常在老化系统参数下进行测试。
老化测试房操作程序:
1、打开机台总电源开关;
2、将放满产品的工作台推进测试柜,打开每层的小开关;
3、检查所有产品的通电情况,移动电源老化测试房,确认无误后关上小门;
4、调整测试参数:低压200,常压220,高压240,温度10℃c,漫游10分,断开1分,冲击通3秒,冲击断3秒,冲击次数3次,总老化时间1小时(新产品首批生产2小时);
5、测试参数确认无误后按开启动键,开始老化测试;
6、每隔10分钟检查一次设备运行以及老化的产品是否正常。
7、测试完成,填写《老化测试记录表》,详细记录测试过程的各种情况和参数。
8、关闭每层的小开关,后关闭总电源开关。
产品测试载板与测试探针基板上的测试探针对应放置,产品测试载板上设置有若干整列排布的用于容纳测试产品的卡槽,卡槽边缘的产品测试载板上还设有感应片,该感应片电性连接到测试产品上;产品测试时,部分测试探针直接连接测试产品,部分测试探针通过连接感应片间接连接测试产品,老化测试房,从而对测试产品进行供电,并收集测试产品的信号进行测试;其测试探针在升降气缸的带动下直接与测试产品的感应点接触,免去了操作人员繁琐的接线工作。
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